X線応力測定において機器が原因で測定値のバラつきが大きくなる事はほとんどありません。

測定値ばらつき＝原因(粗大結晶、応力勾配、3軸応力、異方性)

バラつきの原因は、測定対象にあります。測定値のばらつきが問題になる原因は以下の通りです。よく出現する順序で

1. 結晶粒が大きい。結晶粒の大きさ単位μmが大体標準偏差とオーダーが同じになります。結晶粒数μmの場合は、測定した応力[MPa]の標準偏差も1桁[MPa]、結晶粒数百μmの場合は標準偏差も3桁[MPa]になります

2. 応力が大きく変化している場所、応力勾配が大きい場所、組織が不均一の場所。溶接部の溶接線近傍は、応力勾配が大きく、組織も不均一で場所による応力の差が大きい場所です。

3. 3軸応力が発生している場所。X線応力測定は、平面応力場を仮定した測定方法でグラインダー処理等の3軸応力発生の影響が、測定値のばらつきとして出現することがあります。

4. 異方性のある材料。方向によって弾性率が違う場合

条件がいい材料 の場合は、数MPaの差を認識することができます。

1. 結晶粒が十分小さく、等方性である。

2. 平面応力場である。

測定値の理解には、材料や現象に対する知識が必要です。知識がないとX線測定はバラツキが大きいとなってしまうのです。

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当社が測定の対象を鋼、ステンレス、アルミを主にしているのは、応力値の解釈には、材料や現象に対する知識が必要だからです。

ばらつきを軽減する解析方法

モールの応力円リバース解析     特許第7513234号

1. 当社の特許技術で1点の応力を２〜8方向の測定結果から推定することにより精度の高い解析を実現します。

2. 180度フリップ平均で3軸せん断応力を相殺して精度の高い解析を実現します。